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先进的激光阻隔时间分析技术(LOT)配合专业图像分析技术,可快速准确地进行从纳米到微米的粒度、粒形分析:
- 监测动力学过程
- 通过记录大小vs形状绘制多维数据
- 分析复杂数据以反应分布中的次要分布
- 通过从数据库中调用记录图片来识别分布中的单个粒子
- 生成标准体积和数量分布结果
- 通过使用视频的精密动态图像分析技术,准确描述非球形材料
- 测量结果与颗粒或介质的物理光学特性无关
EyeTech粒度分析仪
010-51627740