动态光散射（DLS）是目前表征纳米颗粒的主流方法。它通过进行布朗运动的微小颗粒对入射激光束而产生的光强随时间变化的相关性分析，得到扩散系数D，进而通过Einstain-Stock公式得到等效流体力学直径（dh）。 Brookhaven自八十年代初成立以来，致力推动光散射技术在纳米颗粒表征领域的技术进步与应用发展，其间每个产品都代表这业界的最高技术标准。
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纳米颗粒在胶体分散体系中的稳定性是一个标准纳米颗粒系统很重要的内容。颗粒表面电位，可以表征与控制胶体分散体系的稳定性。测量颗粒表面电位是通过测定Zeta电位来实现的，而用电泳光散射法测定颗粒的电泳速度从而计算出Zeta电位，具有快速、统计精度高、重现性好的优点。
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高分子聚合物的分子量及其分布决定许多物理性质：随着分布的宽度的降低，聚合物的强度和韧性增加；随着分布的宽度的降低，聚合物变得更难处理。GPC与多角度光散射检测器联用可以提供关键信息来预测聚合物的各种性能。
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基于全新激光光阻技术（LOT）与专业图像分析技术的EyeTech系列产品，结合尺寸、粒形和浓度数据，精确完成从纳米到微米的颗粒表征。EyeTech卓越的灵活性可为颗粒测量提供多种选择。
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BI-DCP/BI-XDC基于经典的离心/沉降原理（Stocks公式），通过高精度的数字控制，是迄今为止具有统计意义的粒度仪中分辨率、准确率最高的测量仪器。广泛应用于胶乳、碳黑、陶瓷和金属粉末等行业的质量控制方面。
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ViewSizer 3000系列产品对传统NTA/PTA方法进行了全面升级和革新，创造性的引入了多光谱测量技术，同时使用了三只不同波长、功率可控激光器，完美的解决了其他纳米颗粒分析技术存在的局限性，可以提供准确、真实的颗粒浓度、粒度及其分布测量
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