对于亚微米以上的颗粒粒度测量，有许多表征方法：包括筛分、光学显微镜、沉积、激光衍射、电子和光学计数器。每种技术都有其优点和缺点：计数方法有着很高分辨率，但不能与显微镜载玻片上的气载颗粒或颗粒一同使用；激光衍射法仪器测量速度很快，简单易用，重复性也不错，但是测量分辨率较低；基于离心/沉降方法的仪器具有良好的分辨率和准确性，但测量时间长且操作较繁琐；显微镜测量可以获得有关形状的重要信息，但测量相对较慢，特别是对于宽分布，需要大量取样速度就更慢了。筛分方法非常便宜，但测量分辨率过低，并且需要使用技巧和长期维护。

这几年随着相关技术的成熟，基于时间变换的激光光阻技术（TOT）提供了令人兴奋的优点：

• 测量是在单个粒子上进行的，因此分辨率相对较高；

• 与区域计数器不同，尺寸不是由脉冲高度决定的，而是由脉冲宽度决定，因此，测量系统无需校准。

• 最重要的是测量结果不依赖与被测样品的物理/光学性质。

LOT 激光光阻法的基本原理：

图1是基本的光路结构。波长λ=632.8nm经准直的氦氖激光束通过楔形棱镜（WP），该楔形棱镜使光束偏离光轴，偏转角为θd，WP以角频率m=2πυ旋转。透镜（LA）使用焦距为F的透镜将光束聚焦为1.2mm的光斑尺寸（按照1/e2光强），旋转聚焦的偏转光束形成了空间直径为D的圆，为了简单起见 ，目前假定D >> dp（dp是颗粒直径）。 颗粒以各种方式呈现在光束中：流动或搅拌的液体中; 在光栅扫描的显微镜载玻片上;在流动的空气中; 或者干脆沉淀在空气或液体中。光电二极管垂直于光轴放置在颗粒后面。

在光束穿过粒子的过程中，光电二极管上的信号较低。理想情况如图2所示。通过测量脉冲宽度并乘以切向速度（VT=ωF tanθd），可以得到光束在粒子上行进的距离。 这个距离与粒度相等，实际上， LOT技术是从原始数据计算粒度最简单的方法之一。

  尽管颗粒的折光指数与吸收会对信号波形有影响，但是与信号宽度无关。因此LOT方法是真正的绝对法测量，无需折光/吸光等物理或光学参数 

   可以对混合样品进行精确测定。

    当扫描颗粒非直径区域时，对脉冲的影响为：

        - 由于微粒边沿是沿弦方向而非直径倾斜，所以脉冲边缘的陡峭度较小 

        - 脉冲振幅较小，因为激光光斑可能不会完全被粒子遮挡，而在其边缘处穿过。

图像法：

    不是所有颗粒都是能够使用球型模型等效其粒径的：纤维、棒状、非规则形状 -Feret直径、形状因子与长宽比

对于纤维样品的表征：LOT+图像法