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弘升携手Picarro、Brookhaven登陆BCEIA 2019

2019-10-25 13:38:47

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关于BCEIA关于BCEIA

BCEIA作为中国分析测试领域专业化程度最高的国际性盛会,具有广泛的国际影响力,自1985年创办以来作为国际新技术、新仪器、新设备的展示窗口受到国内外众多专家、学者、科技人员的持续关注;在促进国际间科学技术交流、推动分析测试科学和仪器制造技术发展中起到了重要作用。


弘升与BCEIA

 

“第十八届上海分析测试学报告会暨展览会”于2019年10月23日-26日在上海国家会议中心召开,弘升携手Brookhaven及PICARRO参加展会。


onmi BECIA 展会图

 

Brookhaven作为参展仪器,有OMNI、90PlusPALS、BI-200SM、广角静态光散射系统、EyeTech等,携带展会的样机有OMNI(多角度纳米粒度及Zeta电位分析仪)、EyeTech(激光粒度仪)。

 

onmi BECIA 展会图1

 

PICARRO的产品是基于我们拥有专利的光腔衰荡光谱学(CRDS)技术,能以ppb的精度来测量气体的浓度及同位素比值。该技术利用光谱学的原理来定量测量气态分子的浓度(有时候是同位素)。CRDS技术是通过光信号的衰减率来测得浓度,这使得信噪比得以提高。


Picrro BECIA 展会图2


弘升欢迎您的莅临

 

弘升携手Brookhaven及PICARRO在上海国家会议中心“BCEIA2019”展位号:12081等待您的莅临!

 



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