关于BCEIA关于BCEIA

BCEIA作为中国分析测试领域专业化程度最高的国际性盛会，具有广泛的国际影响力，自1985年创办以来作为国际新技术、新仪器、新设备的展示窗口受到国内外众多专家、学者、科技人员的持续关注；在促进国际间科学技术交流、推动分析测试科学和仪器制造技术发展中起到了重要作用。

弘升与BCEIA

“第十八届上海分析测试学报告会暨展览会”于2019年10月23日-26日在上海国家会议中心召开，弘升携手Brookhaven及PICARRO参加展会。

Brookhaven作为参展仪器，有OMNI、90PlusPALS、BI-200SM、广角静态光散射系统、EyeTech等，携带展会的样机有OMNI（多角度纳米粒度及Zeta电位分析仪）、EyeTech（激光粒度仪）。

PICARRO的产品是基于我们拥有专利的光腔衰荡光谱学（CRDS）技术，能以ppb的精度来测量气体的浓度及同位素比值。该技术利用光谱学的原理来定量测量气态分子的浓度（有时候是同位素）。CRDS技术是通过光信号的衰减率来测得浓度，这使得信噪比得以提高。

弘升欢迎您的莅临

弘升携手Brookhaven及PICARRO在上海国家会议中心“BCEIA2019”展位号：12081等待您的莅临！